培训背景

在全球供应链重构与自主可控战略深入推进的背景下，电子元器件国产化正从“能用”向“好用”“可靠”跨越式发展。然而，行业仍面临三大核心挑战：选型标准缺失 （缺乏国产器件对标国际大厂的系统化评估体系）、认证体系断层 （军工/车规级标准向工业级转化的技术鸿沟）、失效分析能力滞后 （高端测试设备依赖进口，故障根因定位效率低）。

本培训依托电子元器件可靠性技术体系 ，创新性构建“选型-认证-测试-失效分析-改进闭环 ”全生命周期管理框架。为企业提供覆盖芯片-模块-系统 层级的国产化替代方法论，助力实现技术自主可控 与供应链安全 双目标。

时间地点

• 培训时间 ：2025年8月8日（周五）9：00--21：00
• 培训地点 ：青岛（具体地点报名后通知）

培训大纲：

• 第一章：器件选型与替换的基本问题
• 第二章：导致器件故障的应力类型与场合
• 第三章：选型认证与替换方法、入厂筛选和寿命终止极限判定
• 第四章：器件失效分析方法

培训对象 ：

• 硬件开发工程师、电路设计工程师
• 测试工程师、质量工程师
• 系统工程师、产品经理
• 技术总监、研发管理人员

专家团队：武晔卿

电子工程硕士，研究员，专注于电子可靠性设计、器件失效分析、工程计算、测试方法、技术方法论等方面的研究。

曾任航天总体所主任设计师，研发制造企业研发总监，北京市级优秀青年工程师，科协委员。对电子可靠性设计、测试、失效分析等技术有24年的资深专注研究，出版专著《嵌入式系统可靠性设计技术与案例解析》、《电路设计工程计算基础》。曾为航天、中电、汽车、中科院、航空、医疗电子、通信、安防、电力电子、分析仪器、工业控制、消费电子、高校等多行业几百家客户提供电路板故障诊断、器件失效分析、可靠性设计审核、测试方案用例设计及问题分析、咨询培训辅导等服务。

📢相关事宜

• 培训结束后将颁发课程证书
• 课程费用：4000元/人（以上收费含教材费、听课费、咨询费、培训证书费、工作午餐费、发票），其余食宿交通自理，如需定房请告知。
• 培训发票：培训会务工作指定由主办单位组织协调，并为学员开具增值税机打发票。

📢 在线报名：点击“我要报名”，填写信息即可，审核后邀请到会议微信群。

申请技术交流：

1、请致电：张艳，13851683378

2、扫描二维码，微信沟通。说明姓名、单位名称

3、报名人员，免费赠送《2025年电子元器件与集成电路国产替代产品选型手册》

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第一部分：器件选型与替换的基本问题

1.1、器件替换常见问题现象

1.1.1、原来正常工作的产品在器件替换后不能工作或性能降低

1.1.2、器件替换后，批次不良率数据变差

1.1.3、初次选型或替换时需要关注的故障诱发指标参数有哪些

1.1.4、如上问题的成因机理、分析方法

1.2、器件选型与替换技术分析要素

1.2.1、封装带来的问题

1.2.2、内部结构和材质带来的问题

1.2.3、制造工艺带来的使用性问题

1.2.4、内部电路不同带来的参数差异----相同功能器件的内部拓扑图对比、接口特性差异分析

1.2.5、批次质量水平一致性评价方法----以TVS、MOS管为例说明一致性指标的选择、统计分布图特征与隐含问题

1.2.6、有益参数和有害参数识别----以电容、运放为例说明在不同电路中的有益有害指标识别方法

1.2.7、器件应用前后级匹配选型设计注意事项----阻抗匹配原理，以数字芯片数据接口和模拟放大电路信号采集端口为例

第二部分：导致器件故障的应力类型与场合

2.1、瞬态EOS与累积性EOS----EOS成因、损伤特征、瞬态/累积性EOS特征对比、解决措施

2.2、温度与温度冲击----器件受温度和温度冲击应力的影响部位和机理，故障特征

2.3、闩锁----CMOS类IC的闩锁失效机理、测试方法、故障特征、解决措施

2.4、热损伤----成因（瞬态过流、持续过流、负荷特性曲线超标）、损伤特征、解决措施

2.5、力学损伤----温度/温度冲击/振动导致的力学损伤机理、损伤特征解决措施

2.6、MSD----潮敏器件的内部结构，失效的特征、机理、解决措施

2.7、潮湿与腐蚀----腐蚀的机理，故障特征、解决措施

2.8、VP与ESD----尖峰电压的产生场合，损伤特征、解决措施

2.9、过渡过程----过渡过程对能量接口和数据接口的不同影响分析、过渡过程超调和振荡的产生场合、解决措施

2.10、热插拔----热插拔的发生场合、损伤特征、解决措施

2.11、接地不良----接地不良引起器件故障的发生机理、解决措施

2.12、设备互联匹配问题

2.13、电感瞬态过程----反向电动势的影响、解决措施

2.14、电容瞬态过程

2.15、时间应力自然老化

2.16、气压问题----安规、高压、发热、密封器件的压差作用机理

第三部分：选型认证与替换方法、入厂筛选和寿命终止极限判定

3.1、分立元件：电阻、电容、电感、磁珠、导线

3.2、保护类器件：保险丝/TVS/MOV/压敏电阻/GDT/NTC电阻/PTC电阻

3.3、模拟类IC类器件：运放、ADDA、LDO

3.4、接口器件：光耦隔离电路、CAN总线、485总线、模拟信号传输接口电路

3.5、二极管三极管

3.6、功率开关器件：MOSFET/IGBT/功率三极管/继电器

3.7、按键

3.8、线缆接插件

3.9、数字类IC器件：MCU、存储芯片、逻辑门电路

第四部分：器件失效分析方法

4.1、目测与镜检

4.2、参数统计分析方法

4.3、IV曲线

4.4、DPA

4.5、X光

4.6、失效特征示例和失效特征判别方法----以IC芯片、电阻、电容、二极管三极管、保护器件为例分别展开

第五部分：互动交流与答疑

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国芯在线为国内外科技型企业及相关技术院校提供先进的技术咨询服务及学术交流平台。我们构建了跨电子工程、机械系统、嵌入式开发及供应链管理的全链路技术赋能体系。通过模块化知识矩阵（16大专业领域）与实战化培训方案，助力客户实现关键技术自主化与人才梯队升级。更多培训专题如下：

• 电子产品潜在隐患 预测试用例设计
• 制程过程检验测试方案
• 电磁兼容设计
• 系统级电磁兼容设计与规划
• DFMEA潜在失效模式与影响分析
• 嵌入式软件可靠性与功能安全设计
• 电子系统架构设计与系统工程师速成
• 产品系统可靠性设计
• 电子企业可靠性系统工程技术与方法
• 电子电路失效机理与隐患防护设计
• 电路容差设计（WCCA）大纲
• 电路可靠性设计与工程计算
• 器件选型认证与器件替换
• 嵌入式系统硬件可靠性设计
• 电子产品设计质量工程实务
• 通用质量特性设计

【国芯在线】累计发布 500+ 国产品牌，42260条进口型号的国产替代方案： https://www.chipsmate.com/index/substitute/index.html